[发明专利]一种CT数据校正方法及一种阶梯测试件有效

专利信息
申请号: 201710690807.6 申请日: 2017-08-11
公开(公告)号: CN107563972B 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 邱焓;王珏;蔡玉芳;邹永宁;刘荣;苏志军;穆洪彬 申请(专利权)人: 重庆真测科技股份有限公司;重庆大学;中国人民解放军96630部队
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;A61B6/00
代理公司: 重庆中之信知识产权代理事务所(普通合伙) 50213 代理人: 张景根
地址: 400000 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公布了一种CT数据校正方法,通过一种阶梯测试件,获得在不同等效钢厚度下的探测器剂量自然对数值。并通过多项式拟合,拟合出真实射线积分曲线。然后求出理想射线积分曲线。最后通过两个曲线的对应关系,实现对CT数据的非线性校正。从而解决由多能射线硬化,射线散射和探测器非线性等物理或系统原因导致的CT数据呈非线性的问题。进而实现对硬化、散射、探测器非线性的数据校正。本发明还公开了一种用于CT数据校正的阶梯测试件,该测试件拥有若干等效钢厚度层,其密度等于标准钢。
搜索关键词: 一种 ct 数据 校正 方法 阶梯 测试
【主权项】:
一种CT数据校正方法,包括暗场校正和空气校正,其特征在于:还包括CT数据非线性校正,所述CT数据非线性校正用于去除射束硬化、射线散射带来的误差,所述CT数据非线性校正的方法为利用具有不同等效厚度的测试件做X射线扫描并获取其数据作参考值,结合X射线穿透阻挡物剂量值与阻挡物厚度存在I=I0e‑μx的物理关系,建立参考值与理论计算值的对应比照数学模型,并由对应比照数学模型对待测件扫描获取的数据进行比照校正;所述对应比照数学模型包涵对参考值进行自然对数运算、对自然对数运算数据进行多项式拟合、对多项式拟合曲线求导数,以及自然对数的指数逆运算。
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