[发明专利]一种CT数据校正方法及一种阶梯测试件有效
申请号: | 201710690807.6 | 申请日: | 2017-08-11 |
公开(公告)号: | CN107563972B | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 邱焓;王珏;蔡玉芳;邹永宁;刘荣;苏志军;穆洪彬 | 申请(专利权)人: | 重庆真测科技股份有限公司;重庆大学;中国人民解放军96630部队 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;A61B6/00 |
代理公司: | 重庆中之信知识产权代理事务所(普通合伙) 50213 | 代理人: | 张景根 |
地址: | 400000 重*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本发明公布了一种CT数据校正方法,通过一种阶梯测试件,获得在不同等效钢厚度下的探测器剂量自然对数值。并通过多项式拟合,拟合出真实射线积分曲线。然后求出理想射线积分曲线。最后通过两个曲线的对应关系,实现对CT数据的非线性校正。从而解决由多能射线硬化,射线散射和探测器非线性等物理或系统原因导致的CT数据呈非线性的问题。进而实现对硬化、散射、探测器非线性的数据校正。本发明还公开了一种用于CT数据校正的阶梯测试件,该测试件拥有若干等效钢厚度层,其密度等于标准钢。 | ||
搜索关键词: | 一种 ct 数据 校正 方法 阶梯 测试 | ||
【主权项】:
一种CT数据校正方法,包括暗场校正和空气校正,其特征在于:还包括CT数据非线性校正,所述CT数据非线性校正用于去除射束硬化、射线散射带来的误差,所述CT数据非线性校正的方法为利用具有不同等效厚度的测试件做X射线扫描并获取其数据作参考值,结合X射线穿透阻挡物剂量值与阻挡物厚度存在I=I0e‑μx的物理关系,建立参考值与理论计算值的对应比照数学模型,并由对应比照数学模型对待测件扫描获取的数据进行比照校正;所述对应比照数学模型包涵对参考值进行自然对数运算、对自然对数运算数据进行多项式拟合、对多项式拟合曲线求导数,以及自然对数的指数逆运算。
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