[发明专利]一种地面与在轨环境相结合的器件抗总剂量能力确定方法有效
| 申请号： | 201710694510.7 | 申请日： | 2017-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN107677898B | 公开（公告）日： | 2020-02-14 |
| 发明（设计）人： | 王文炎;杜卓宏;李鹏伟;韩晓东;丁丽娜;刘艳秋;张雷浩;张皓源;张洪伟 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 11009 中国航天科技专利中心 | 代理人： | 马全亮 |
| 地址： | 100194 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种地面与在轨环境相结合的器件抗总剂量能力确定方法，该方法包括：对器件在轨电离辐射总剂量环境参数的确定，根据在轨电离辐射总剂量参数确定器件地面辐照试验的性能测试剂量点和辐照试验的剂量率，通过地面辐照试验确定器件电离辐射总剂量敏感参数，对器件进行在轨试验并实时检测器件的敏感参数的变化及器件所承受的电离辐射总剂量值，进而确定器件的抗辐射电离总剂量能力。本发明将地面辐照试验与轨道环境结合来确定器件的抗电离辐射总剂量能力，具有更准确的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 总剂量 电离辐射 辐照试验 敏感参数 参数确定 轨道环境 环境参数 能力确定 实时检测 性能测试 剂量率 抗辐射 电离 试验 | ||
【主权项】：
1.一种地面与在轨环境相结合的器件抗总剂量能力确定方法，其特征在于步骤如下：/n(1)确定器件在轨寿命期内所承受的电离辐射总剂量D；/n(2)根据所述电离辐射总剂量D，确定器件性能测试的剂量点以及剂量率；/n(3)将器件在轨应用的偏置状态作为地面辐照试验的偏置状态，根据步骤(2)所确定剂量率对器件进行辐照试验，在所述剂量点处对器件进行测试，得到每个剂量点处的器件电性能参数值a
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国空间技术研究院，未经中国空间技术研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710694510.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种全自动测斜仪
- 下一篇：一种全球定位系统启动方法及用户终端和相关介质产品
