[发明专利]SOI技术中的NVM装置以及制造相应装置的方法有效

专利信息
申请号: 201710701164.0 申请日: 2017-08-16
公开(公告)号: CN107768372B 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 史芬·拜耳;马丁·特瑞史奇;史帝芬·费拉候史奇;A·亨克 申请(专利权)人: 格芯(美国)集成电路科技有限公司
主分类号: H01L27/11502 分类号: H01L27/11502;H01L27/11507
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及SOI技术中的NVM装置以及制造相应装置的方法,在一个态样中,本发明提供一种半导体装置,其包括:衬底结构,包括形成于基础衬底上方的主动半导体材料以及形成于该主动半导体材料与该基础衬底之间的埋置绝缘材料;铁电栅极结构,设于该衬底结构的主动区中的该主动半导体材料上方,该铁电栅极结构包括栅极电极及铁电材料层;以及接触区,形成于该铁电栅极结构下方的该基础衬底中。
搜索关键词: soi 技术 中的 nvm 装置 以及 制造 相应 方法
【主权项】:
一种半导体装置,包括:衬底结构,包括形成于基础衬底上方的主动半导体材料以及形成于该主动半导体材料与该基础衬底之间的埋置绝缘材料;铁电栅极结构,设于该衬底结构的主动区中的该主动半导体材料上方,该铁电栅极结构包括栅极电极及铁电材料层;以及接触区,形成于该铁电栅极结构下方的该基础衬底中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于格芯(美国)集成电路科技有限公司,未经格芯(美国)集成电路科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710701164.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top