[发明专利]基于DSP+FPGA的去DBS伪迹的局部场电位实时检测分析平台在审

专利信息
申请号: 201710704734.1 申请日: 2017-08-17
公开(公告)号: CN107510888A 公开(公告)日: 2017-12-26
发明(设计)人: 刘晨;常思远;魏熙乐;王江;邓斌;杨双鸣 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: A61N1/36 分类号: A61N1/36;A61N1/05;A61B5/04
代理公司: 天津才智专利商标代理有限公司12108 代理人: 王顕
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明提供一种基于DSP+FPGA的去DBS伪迹的局部场电位实时检测分析平台,该平台综合DSP与FPGA的数据运算处理高效和时序逻辑控制强的优势,将DSP与FPGA联合系统作为下位机,对局部场电位信号进行采集、放大、滤波及特性提取、分析,并通过USB通讯模块实时将分析处理之后的局部场电位信息上传至上位机并显示。上位机可以通过界面编写,实现局部场电位信号采集通道的设定及通道设定与显示功能的切换。本发明的效果是在DBS电极中增加了信号采集及预处理功能,实现了在DBS实施过程中,对局部场电位信号直接采集及预处理,使闭环DBS成为可能。
搜索关键词: 基于 dsp fpga dbs 局部 电位 实时 检测 分析 平台
【主权项】:
一种基于DSP+FPGA的去DBS伪迹的局部场电位实时检测分析平台,其特征是:该分析平台包括有:用于局部场电位采集分析的下位机(1)、上位机(2),所述下位机(1)包括有DBS电极阵列(3),信号采集预处理电路(4),通道选择模块(5),ADC模块(6)和FPGA芯片(7),DSP芯片(8)和USB通讯模块(9);所述信号采集预处理电路(4)通过DBS电极阵列(3)对电极植入处电位进行采集和预处理得到去伪迹的局部场电位信号(24),FPGA芯片(7)控制通道选择模块(5)选定读取通道,并通过数模变换器ADC模块(6)将场电位信号读取到FPGA芯片的FIFO(22)中,DSP芯片(8)对FIFO(22)中的数据读取并进行分析处理;上位机(2)通过C++编程实现人机交互界面(10),并通过USB通讯模块(9)实现与DSP芯片(8)的数据通讯;在所述基于DSP+FPGA的去DBS伪迹的局部场电位实时检测分析平台中,通过人机交互界面(10)对DBS电极通道是否进行采集进行设定,并通过USB通讯模块(9)将设定值信息发送到DSP芯片(8),DSP芯片(8)输出控制命令控制FPGA芯片(7)进行数据采集,DSP芯片(8)读取FIFO(22)中采集到的数据,并进行数据处理分析,将处理结果通过USB通讯模块(9)传输到人机交互界面(10)中显示。
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