[发明专利]X射线透射检查装置有效
| 申请号： | 201710717081.0 | 申请日： | 2017-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN107782750B | 公开（公告）日： | 2021-10-12 |
| 发明（设计）人： | 高原稔幸 | 申请（专利权）人： | 日本株式会社日立高新技术科学 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供X射线透射检查装置，其能够容易地进行基于标准试样的调整。该X射线透射检查装置具有：X射线源(2)，其对试样S1照射X射线；试样移动机构，其在来自X射线源的X射线的照射中使试样向特定方向连续移动；X射线检测器(4)，其相对于试样设置于与X射线源相反的一侧，检测透射过试样的X射线；标准试样移动机构(5)，其能够使设置于不同于试样的位置的标准试样S2移动；以及配置变更机构(6)，其能够使X射线源和X射线检测器与试样和标准试样相对移动，能够将X射线源和X射线检测器从与试样对置的配置状态变更到与通过标准试样移动机构移动的标准试样对置的配置状态。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 透射 检查 装置 | ||
【主权项】：
一种X射线透射检查装置，其特征在于，该X射线透射检查装置具有：X射线源，其对试样照射X射线；试样移动机构，其在来自所述X射线源的X射线的照射中使所述试样向特定方向连续移动；X射线检测器，其相对于所述试样设置在与所述X射线源相反的一侧，检测透射过所述试样的所述X射线；标准试样移动机构，其能够使设置于不同于所述试样的位置的标准试样移动；以及配置变更机构，其能够使所述X射线源和所述X射线检测器与所述试样和所述标准试样相对移动，能够将所述X射线源和所述X射线检测器从与所述试样对置的配置状态变更到与通过所述标准试样移动机构移动的所述标准试样对置的配置状态。
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