[发明专利]一种IGBT检测电路及检测方法有效
| 申请号： | 201710718241.3 | 申请日： | 2017-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN109425811B | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 钱宇力;单耘耘 | 申请（专利权）人： | 上海新微技术研发中心有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人： | 孙佳胤 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种IGBT检测电路及检测方法。所述IGBT检测电路，用于测试一第一被测IGBT，包括栅极驱动电源输入端口、第一栅极电阻、电流波形输出端口、负载电感、以及测试电源输入端口；所述第一栅极电阻的第一端连接所述栅极驱动电源输入端口、第二端连接所述第一被测IGBT的栅电极；所述负载电感的第一端连接所述第一被测IGBT的发射电极、第二端连接所述电流波形输出端口；所述电流波形输出端口连接所述测试电源输入端口；所述测试电源输入端口连接所述第一被测IGBT的集电极。本发明简化了IGBT检测电路的结构，能够实现对IGBT性能的全面检测，并提高检测结果的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 igbt 检测 电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种IGBT检测电路，用于测试一第一被测IGBT，其特征在于，包括栅极驱动电源输入端口、第一栅极电阻、电流波形输出端口、负载电感、以及测试电源输入端口；所述第一栅极电阻的第一端连接所述栅极驱动电源输入端口、第二端连接所述第一被测IGBT的栅电极；所述负载电感的第一端连接所述第一被测IGBT的发射电极、第二端连接所述电流波形输出端口；所述电流波形输出端口连接所述测试电源输入端口；所述测试电源输入端口连接所述第一被测IGBT的集电极。
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