[发明专利]一种测量带电粒子能谱消减口径误差的磁谱仪的构建方法

摘要

本发明公开一种测量带电粒子能谱消减口径误差的磁谱仪的构建方法，包括设计探测器底拖的形状，构建磁谱仪。本发明结构简单紧凑，根据带电粒子束初级聚焦位置符合双曲线特点设计底拖，极大消减了注入孔引入的系统误差，另外粒子通过的有效区域多位置磁场中心，受边界效应影响小，测量精度显著提高，适用于推广应用。

主权项

1.一种测量带电粒子能谱消减口径误差的磁谱仪的构建方法，其特征在于包括如下步骤：步骤1)设计探测器底拖的形状来限定探测介质的位置，使该探测面的面型满足双曲线型，方程式如下：其中，是注入孔直径，x和y是以带电粒子注入孔中心为原点，以带电粒子入射方向为y轴，以垂直于磁感应平面并经过原点，且与y轴垂直的直线为x轴建立的坐标系；步骤2)构建磁谱仪，具体如下：将两块磁源同向固定于框体的上下两侧，使两块磁源之间形成均匀磁场；将封板与磁源外部紧贴，并固定在框体上，构建磁通路，并屏蔽磁场；在所述的框体的一侧面开设左右两个限位槽，两个限位槽的中间开设注入孔，并插入注入孔结构，在该框体的另一侧面设有与该注入孔同轴的准直孔；将探测器介质分别贴合到两个探测器底拖的探测面上，将两个探测器底拖分别放入限位槽，探测面朝内。