[发明专利]一种电容感测机构的检测方法在审

专利信息
申请号: 201710725720.8 申请日: 2017-08-22
公开(公告)号: CN107565947A 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 钟刚 申请(专利权)人: 苏州瀚瑞微电子有限公司
主分类号: H03K17/96 分类号: H03K17/96;H03K17/975
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215163 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种电容感测机构的检测方法,所述电容感测机构被按压时,所述电容感测机构的电容发生变化,所诉电容感测机构连接至控制芯片,当操作者接触所述电容感测机构时,所述控制芯片至少两次检测所述电容感测机构,若所述检测值相近,则判定所述电容感测机构被触摸,执行触摸操作相应的功能;若所述电容感测机构的检测值发生变化,则判定所述电容感测机构被按压,执行按压操作相应的功能。上述检测方法使得所述电容感测机构可以同时实现两个功能,方便用户操作,并可以减少电子设备触摸按键的设置。
搜索关键词: 一种 电容 机构 检测 方法
【主权项】:
一种电容感测机构的检测方法,所述电容感测机构被按压时,所述电容感测机构的电容发生变化,所诉电容感测机构连接至控制芯片,其特征在于:当操作者接触所述电容感测机构时,所述控制芯片至少两次检测所述电容感测机构,若所述检测值相近,则判定所述电容感测机构被触摸,执行触摸操作相应的功能;若所述电容感测机构的检测值发生变化,则判定所述电容感测机构被按压,执行按压操作相应的功能。
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