[发明专利]一种传感器芯片的校准方法及应用该方法的芯片校准编程器在审

专利信息
申请号: 201710729449.5 申请日: 2017-08-23
公开(公告)号: CN107643095A 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 曹力;张坡;倪大成;王飞;郑良广;侯晓伟 申请(专利权)人: 宁波中车时代传感技术有限公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 宁波诚源专利事务所有限公司33102 代理人: 张一平,王莹
地址: 315021 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种传感器芯片的校准方法,采样多组传感器芯片的输入输出数据,增加零点对应数据的权重系数,并使用最小二乘法拟合获取传感器芯片的输入输出关系,进而获取零点和增益的校准值。本发明中的传感器芯片的校准方法,相较于现有技术中的需要分别对零点、增益进行校准,其校准过程更加简单,能够同时获取精确的零点、增益校准值。同时,还可以通过增加零点的权重系数来达到满足传感器芯片对零点更高精度指标的要求,使得烧录入传感器芯片内的零点、增益校准值能够提高传感器芯片的检测精确度。
搜索关键词: 一种 传感器 芯片 校准 方法 应用 编程
【主权项】:
一种传感器芯片的校准方法,其特征在于:向传感器芯片输入测试信号,传感器芯片对应实现信号输出;在输入测试信号中选取包括零点在内的n个测量点,获取各测量点对应的输入数据[x1,x2,x3,......,xi,......,xn],其中i,n为自然数,1≤i≤n;对应于各测量点,采样获取传感器芯片对应的输出数据[y1,y2,y3,......,yi,......,yn];使用最小二乘法拟合获取传感器芯片的输入输出关系,进而获取零点和增益的校准值:其中,a为零点校准值,b为增益校准值。
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