[发明专利]一种射频搭接阻抗测量装置及其制作和测量方法

摘要

本发明公开了一种射频搭接阻抗测量装置及其制作和测量方法，装置包括：筒体、顶板和底板，筒体、顶板和底板间形成内腔，筒体包括导电壳体和与壳体配合的非导电盖板；一端位于内腔中，另一端经壳体穿出后与测试设备相连，并对称布置于壳体相对侧部的两个测试接口；一端位于内腔中，另一端经盖板穿出后与被测搭接系统相连的测量夹头；容置于内腔中的测量电路，测量电路包括匹配电阻和隔离电阻；两个匹配电阻一端连接至壳体，另一端分别与两个测试接口相连；两个隔离电阻一端分别与两个测试接口相连，另一端连接至测量夹头的一端。本发明能够解决现有阻抗测量方式不能实现阻抗扫频测量，不适合测量实际系统搭接射频阻抗，及对仪器要求高的技术问题。

主权项

1.一种射频搭接阻抗测量装置，其特征在于，包括：筒体(20)、位于所述筒体(20)上部的顶板(1)，以及位于所述筒体(20)下部的底板(3)，所述筒体(20)、顶板(1)和底板(3)之间形成内腔；所述筒体(20)进一步包括采用导电材料的壳体(2)，及采用非导电材料并与所述壳体(2)相配合的盖板(4)；一端位于所述内腔中，另一端经所述壳体(2)穿出后与外部的测试设备(40)相连，并对称布置于所述壳体(2)相对侧部的两个测试接口(5)；一端位于所述内腔中，另一端经所述盖板(4)穿出后与外部的被测搭接系统(50)相连的测量夹头(6)；容置于所述内腔中的测量电路(30)，所述测量电路(30)进一步包括匹配电阻(7)和隔离电阻(8)；两个匹配电阻(7)的一端连接至所述壳体(2)，另一端分别与对称布置的两个测试接口(5)的内部导电端(51)相连；两个隔离电阻(8)的一端分别与对称布置的两个测试接口(5)的内部导电端(51)相连，另一端连接至所述测量夹头(6)的一端。