[发明专利]一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法有效

专利信息
申请号: 201710733481.0 申请日: 2017-08-24
公开(公告)号: CN107588930B 公开(公告)日: 2020-01-21
发明(设计)人: 李琳莹;甘露;宋志佗;李秋云 申请(专利权)人: 成都泰瑞通信设备检测有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 代理人: 郭受刚
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置及测试方法,将待测光纤按照测试要求的弯曲数在四个矩形槽和四个弧形槽组成的密封槽内绕圈布放,采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试,避免了光纤在四分之一圆弯曲以外发生弯曲而引起新的宏弯损耗对测试结果的影响,减小测试误差,同时,将待测光纤置于检测液中进行测试,进一步抑制了W波对测试结果的影响,从而保证获得的光纤宏弯损耗数值的真实性,保证了光纤宏弯损耗测试的准确性、稳定性和可靠性。
搜索关键词: 一种 新型 通信 光纤 损耗 测试 装置 方法
【主权项】:
1.一种新型通信光纤宏弯损耗测试装置,其特征在于,包括底板以及设置在底板上用于布放光纤的首尾连通的密封槽,所述密封槽围成的区域为圆角矩形,所述密封槽包括四条矩形槽和四个弧形槽,所述弧形槽的长度为该弧形槽所在圆的周长的四分之一;所述密封槽内填充有检测液,待测光纤浸入检测液中进行测试,在测试过程中,所述检测液有效吸收泄露出待测光纤的光功率,避免辐射出纤芯的辐射模经过光纤芯与包层、包层与光纤涂层、光纤涂层与空气界面多次反射回到纤芯,与传输模产生耦合振荡,以抑制W波对测试的影响。/n
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