[发明专利]一种基于全极化高轨SAR的电离层时变TEC测量方法有效
| 申请号： | 201710742832.4 | 申请日： | 2017-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN107561534B | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 陈杰;郭威;曾虹程;王鹏波;杨威 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90 |
| 代理公司： | 北京永创新实专利事务所 11121 | 代理人： | 赵文颖 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于全极化高轨SAR的电离层时变TEC测量方法，包括步骤一：计算方位向合成孔径点数；步骤二：方位向数据补零；步骤三：方位向傅里叶变换；步骤四：方位向信号解压缩，获取等效方位向回波频谱信号；步骤五：方位向逆傅里叶变换；步骤六：估计法拉第旋转角；步骤七：获取合成孔径时间内的时变TEC；经过以上七个步骤，利用全极化高轨SAR信号完成了对合成孔径时间内的时变TEC精确测量。本发明具有时变TEC测量精度高的特点，由于采用法拉第旋转角模型与TEC反演模型，相对于传统测量方法，具有更高的测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 极化 sar 电离层 tec 测量方法 | ||
【主权项】：
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