[发明专利]一种光栅膜参数的标定方法及系统有效

专利信息
申请号: 201710742848.5 申请日: 2017-08-25
公开(公告)号: CN107525655B 公开(公告)日: 2020-03-03
发明(设计)人: 夏正国;于炀;谢春华 申请(专利权)人: 上海玮舟微电子科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 201203 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种光栅膜参数的标定方法及系统,光栅膜包括周期性排列的光栅,定义相邻两个光栅在第一方向上的间距为光栅的周期,第一方向垂直于光栅的延伸方向,光栅的延伸方向与第二方向的夹角为倾斜角,第一方向与第二方向交叉,标定方法包括:提供一显示面板,显示面板包括像素平面,用于形成周期性排列的像素阵列,像素阵列的周期与倾斜角为设定值;将光栅膜与显示面板对位贴合,光栅与像素阵列形成条纹;调整像素阵列的周期并探测条纹的宽度,标定光栅膜的周期;和/或,调整像素阵列的倾斜角并探测条纹的宽度,标定光栅膜的倾斜角。本发明提供一种光栅膜参数的标定方法及系统,以实现对光栅膜的参数进行准确的标定。
搜索关键词: 一种 光栅 参数 标定 方法 系统
【主权项】:
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