[发明专利]圆形壳体壁厚在位检测方法

摘要

本发明公开了一种圆形壳体壁厚在位检测方法，该方法将两个非接触式位移传感器反向安装在刀柄上，进而安装在机床主轴上，分两次扫描检测壳体内外侧，并根据机床x轴的位移量计算出壳体壁厚值的方法。本发明相对于现有的超声波测厚仪，使得圆形壳体的壁厚检测实现机械自动化，具有更高的检测准确度和超高的检测效率，有效减少检测盲区；壁厚检测结果不合格时，可直接进行补偿加工，有效提高壳体加工效率。

主权项

1.一种圆形壳体壁厚在位检测方法，其特征在于，检测方法基于检测装置实现，检测装置由测量刀柄和测控系统组成，测量刀柄前端设置有两个反向安装的非接触式位移传感器，其中内侧传感器用于检测内侧传感器与圆形壳体内侧的距离，外侧传感器用于检测外侧传感器与圆形壳体外侧的距离；所述检测方法包括以下步骤：步骤1，测量初始状态：控制回转台复位，并控制机床主轴在壳体内侧沿z轴运动，建立以壳体0度端面为原点、母线方向纵坐标、周向角度为横坐标的产品坐标系；步骤2，机床主轴运动到待测截面并保持稳定后，转台旋转一周；内侧传感器完成壳体内侧待测截面的扫描测量；重复此过程直到完成壳体内侧所有待测截面的扫描；步骤3，机床主轴运动到与内侧待测截面对应的外侧待测截面，转台旋转一周；外侧传感器完成壳体外侧待测截面的扫描测量；重复此过程直到完成壳体外侧所有待测截面的扫描；壳体内、外侧两组测量数据中，角度值、z轴坐标值相同的2个测量值对应于同一测量点，计算该测量点的壁厚值。