[发明专利]一种轴类零件粗抛光瓦检测治具及检测方法在审
| 申请号： | 201710761615.X | 申请日： | 2017-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN107462517A | 公开（公告）日： | 2017-12-12 |
| 发明（设计）人： | 黄锡祥 | 申请（专利权）人： | 惠州申普实业有限公司 |
| 主分类号： | G01N19/08 | 分类号： | G01N19/08 |
| 代理公司： | 惠州创联专利代理事务所(普通合伙)44382 | 代理人： | 韩淑英 |
| 地址： | 516221 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种轴类零件粗抛光瓦检测治具及检测方法，用于检测抛光瓦上的金刚砂分布情况，抛光瓦上设置有凹面，该凹面安装有金刚砂，包括底座，底座上设置有两个相对设置的支架组件、两端分别安装在两个支架组件上的滚筒、设置在滚筒两侧用于固定抛光瓦的固定组件，抛光瓦的凹面贴合接触滚筒表面，在滚筒的一端设置有转动把手。本发明可检测抛光瓦上的金刚砂分布情况，检测出抛光瓦的品质，筛选品质差的抛光瓦，从而保证抛光瓦的抛光效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 零件 抛光 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种轴类零件粗抛光瓦检测治具，用于检测抛光瓦上的金刚砂分布情况，抛光瓦上设置有凹面，该凹面布有金刚砂，其特征在于，包括底座（1），所述底座上固定有两个相对设置的支架组件（2）、两端分别安装在两个支架组件上的滚筒（3）、设置在滚筒两侧用于固定抛光瓦的固定组件（4），抛光瓦的凹面贴合接触滚筒表面，在滚筒的一端设置有把手（31）。
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