[发明专利]一种缺陷识别方法以及用于自动检查机的缺陷识别系统在审

专利信息
申请号: 201710763132.3 申请日: 2017-08-30
公开(公告)号: CN107590511A 公开(公告)日: 2018-01-16
发明(设计)人: 吴利峰 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G01N21/95
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司11372 代理人: 吴大建,何娇
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种缺陷识别方法,包括以下步骤步骤S1建立已知缺陷数据的标准样本数据库;步骤S2将待识别的缺陷图片与所述标准样本数据库中的已知缺陷数据进行对比分析,判定缺陷的类型。本发明还提供一种用于自动检查机的缺陷识别系统。本发明中的缺陷识别方法及系统实现了对于缺陷类型的识别;这种方式对于大部分的膜上异物、膜下异物,假缺陷,膜层变形及脱落等都能进行很好的识别分析,对于缺陷的识别以及后续的改善能起到极大的提升作用。
搜索关键词: 一种 缺陷 识别 方法 以及 用于 自动 检查 系统
【主权项】:
一种缺陷识别方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:建立已知缺陷数据的标准样本数据库;步骤S2:将待识别的缺陷图片与所述标准样本数据库中的已知缺陷数据进行对比分析,判定缺陷的类型。
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