[发明专利]一种针对FPGA内嵌TAP接口的调试链路及调试方法有效

专利信息
申请号: 201710765377.X 申请日: 2017-08-30
公开(公告)号: CN107608846B 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 娄冕;张洵颖;杨博;崔媛媛;赵翠华 申请(专利权)人: 西安微电子技术研究所
主分类号: G06F11/267 分类号: G06F11/267;G06F11/273;G01R31/28
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种针对FPGA内嵌TAP接口的调试链路及调试方法,通过设置一个UART串口作为片上互连总线上的主机,为调试软件提供发起片上访问的通信链路,并将用户自定义的JTAG与TAP链路上的观测点以从机的形式也映射到片上互连总线的虚拟从机中,通过串口调试软件实时检查观测点的状态,确认用户自定义设计的正确性。本发明具有调试范围广泛、可观性高且易于操作的特点,所需要的软硬件环境都是成熟设计,无需新增研发任务即可快速实现调试目的,相对于示波器调试需要反复修改和综合设计,本发明将观测点大规模的集成于片上可寻址空间,只需要一次设计就可完成所有的调试任务,能够大幅度缩短调试周期。
搜索关键词: 一种 针对 fpga tap 接口 调试 方法
【主权项】:
一种针对FPGA内嵌TAP接口的调试链路,其特征在于,通过设置一个UART串口作为片上互连总线上的主机,为调试软件提供发起片上访问的通信链路,并将用户自定义的JTAG与TAP链路上的观测点以从机的形式也映射到片上互连总线的虚拟从机中,通过串口调试软件实时检查观测点的状态,确认用户自定义设计的正确性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安微电子技术研究所,未经西安微电子技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710765377.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top