[发明专利]一种基于健壮稀疏表示聚类的指纹定位方法有效

专利信息
申请号: 201710770981.1 申请日: 2017-08-31
公开(公告)号: CN107567093B 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 杨刚;叶新泉;陈蒙;刘荣芳 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H04W64/00 分类号: H04W64/00;G01S5/02
代理公司: 西安西达专利代理有限责任公司 61202 代理人: 刘华
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种基于健壮稀疏表示聚类的指纹定位方法,主要解决现有技术中定位精度不够,采集时间过长,健壮性不足等问题。本发明主要利用测试点的稀疏先验信息,其核心在于利用RSRC算法对测试点的指纹数据在聚类后指纹库下稀疏表出,从而实现准确定位的目的,首先构建离线指纹库,然后通过仿射传播聚类优化指纹库,在线阶段利用RSRC算法对测试点指纹强度稀疏表示,极小化修正残差确定候选类,实现对测试位置的估计。实验表明本发明较现有的方案有更好的定位效果。
搜索关键词: 一种 基于 健壮 稀疏 表示 指纹 定位 方法
【主权项】:
一种基于健壮稀疏表示聚类的指纹定位方法,其特征在于,包括以下步骤:1)对离线采样的数据经过处理后得到原始数据库Ψ=R11R12...R1NR21R22...R2N............RM1RM2...RMN]]>其中Rij表示第i个接入点接收到第j个传感器的指纹强度,1≤i≤M,1≤j≤N,M表示离线采样点数,N表示采样区域内传感器的个数;2)再通过仿射传播聚类得到优化后的指纹库Φ=S11S12...S1NS21S22...S2N............SP1SP2...SPN]]>其中Sab表示第a个类中心接收到第b个传感器的指纹强度,1≤a≤P,1≤b≤N,P表示类的个数;3)利用测试点稀疏先验信息,通过RSRC算法稀疏表出测试点指纹强度,极小化修正残差确定候选类中心,估计测试点位置;由于实际测试过程中数据会受到噪声的影响,如果想定位精确需要考虑噪声的影响,其中y,y0,e0,t0分别表示实际测试点指纹强度,去噪后测试点指纹强度,噪声,纯净测试点指纹强度在指纹库Φ下的稀疏表出系数,则y=y0+e0=Φt0+e0=[ΦI]t0e0=Φ1t1]]>通过RSRC算法求解方程y=Φ1t1,得到t0的估计值,极小化修正残差确定候选类中心,估计测试点位置;RSRC求解步骤:①利用稀疏表示算法求解y=Φ1t1,得到t0,e0②计算修正后稀疏表出后的残差rξ(y)=||y-δξ(t0^)-e0^||2,1≤ξ≤P]]>③rξ(y)降序排列,取前若干个对应目录下类中心的坐标加权输出测试点位置估计值。
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