[发明专利]利用双光梳光谱仪的病理切片无损检测方法

摘要

本发明提出一种利用双光梳光谱仪的病理切片无损检测方法，其目的在于设计一种双光梳光谱仪，大幅度提高光谱仪的动态范围、缩短测量时间，提高频率分辨率和频率精度。采用重复频率略有差异的两个近红外光梳，用一个同步模块对两个红外光梳进行同步，两个光梳处于主从模式。双光梳准直光束经介质反射镜和分束镜将两个光梳发出的准直光束合束，照射到光电探测器，得到双光梳差频频率分量。这些由两个光梳对应梳齿差频引起交流分量的频率很低，可以采用频谱分析仪对其频率和幅度进行高精度读取。

主权项

1.一种利用双光梳光谱仪的病理切片无损检测方法，用于获得所述病理切片的双光梳光谱仪测定中的吸收谱，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，设置并调整双光梳相干成像分析仪器，该仪器包括光梳同步控制器(1)、主光梳一(2)、从光梳二(3)、介质反射镜(4)、1:1分束镜(5)、光电探测器(6)和频谱分析仪(7)，所述光梳同步控制器(1)分别和所述主光梳一(2)、所述从光梳二(3)连接，从所述主光梳一(2)发出的光被介质反射镜(4)反射，从所述从光梳二(3)发出的光被所述1:1分束镜(5)反射，经所述介质反射镜(4)和所述1:1分束镜(5)将所述主光梳一(2)、所述从光梳二(3)梳发出的准直光束合束，照射到所述光电探测器(6)，所述光电探测器(6)接收并将转化来的信号供所述频谱分析仪(7)分析，步骤二，对所述病理切片进行测量，具体过程如下：步骤2‑1将处理好的所述病理切片放置于所述主光梳一(2)和所述介质反射镜(4)的光路中，所述频谱分析仪(7)记录各梳齿的透射强度，得到透射谱；步骤2‑2，移除所述病理切片后，再次记录各梳齿的发射强度，形成参考谱；步骤2‑3，所述透射谱与所述参考谱相除，获得所述病理切片的吸收谱，其中，主光梳一(2)、从光梳二(3)重复频率分别为fr1和fr2，fr2>fr1。