[发明专利]半导体存储装置有效
申请号: | 201710777408.3 | 申请日: | 2017-09-01 |
公开(公告)号: | CN107818982B | 公开(公告)日: | 2021-08-03 |
发明(设计)人: | 萩岛大辅 | 申请(专利权)人: | 东芝存储器株式会社 |
主分类号: | H01L27/11556 | 分类号: | H01L27/11556;H01L27/11582 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 安香子 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供能提高动作稳定性的半导体存储装置。半导体存储装置包括层叠体及构造体。层叠体包括层叠区域。层叠区域包括选择栅极电极、在第1方向上从第1选择栅极电极离开的第2选择栅极电极、设置在第1选择栅极电极与第2选择栅极电极之间并在第1方向上排列的第1电极、设置在第2选择栅极电极与第1电极之间并在第1方向上排列的第2电极、和设置在第1、第2电极之间并在第1方向上排列的多个第3电极。第1电极的间隔大于第3电极的间隔。第2电极的间隔大于第3间隔。构造体包括在第1方向上延伸的半导体主体、设置在半导体主体与层叠区域之间的外侧膜、设置在半导体主体与外侧膜之间的内侧膜、和设置在外侧膜与内侧膜之间的中间膜。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体存储装置,其特征在于,具备层叠体和第1构造体;上述层叠体包括第1层叠区域,该第1层叠区域包括:第1选择栅极电极;第2选择栅极电极,在第1方向上从上述第1选择栅极电极离开;多个第1电极,设置在上述第1选择栅极电极与上述第2选择栅极电极之间,在上述第1方向上排列;多个第2电极,设置在上述第2选择栅极电极与上述多个第1电极之间,在上述第1方向上排列;以及多个第3电极,设置在上述多个第1电极与上述多个第2电极之间,在上述第1方向上排列,上述多个第1电极的相邻的2个第1电极之间的第1间隔大于上述多个第3电极的相邻的2个第3电极之间的第3间隔,上述多个第2电极的相邻的2个第2电极之间的第2间隔大于上述第3间隔;上述第1构造体包括:第1半导体主体,在上述第1方向上延伸;第1外侧膜,设置在上述第1半导体主体与上述第1层叠区域之间;第1内侧膜,设置在上述第1半导体主体与上述第1外侧膜之间;以及第1中间膜,设置在上述第1外侧膜与上述第1内侧膜之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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