[发明专利]设备掉线原因分析方法及装置、存储介质、电子设备有效
申请号: | 201710787076.7 | 申请日: | 2017-09-04 |
公开(公告)号: | CN107590012B | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 胡伟健 | 申请(专利权)人: | 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
主分类号: | G06F11/07 | 分类号: | G06F11/07;G06N20/00 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 王辉;阚梓瑄 |
地址: | 100195 北京市海淀区杏石口路6*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开是关于一种设备掉线原因分析方法及装置,该方法包括:计算多个设备在第一预设时间内的掉线次数并判断各所述设备的掉线次数是否大于预设掉线次数;将所述掉线次数大于所述预设掉线次数的各所述设备的属性进行抽象化处理得到一属性数据集;对所述属性数据集进行频繁项集挖掘得到各属性之间的联系,并根据各属性之间的联系得到各所述设备之间的公共特征属性;根据所述公共特征属性判断各所述设备的掉线原因并根据所述掉线原因对各所述设备进行调整。该方法可以节省人力成本,还可以更好的解决设备的掉线问题。 | ||
搜索关键词: | 设备 原因 分析 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】:
一种设备掉线原因分析方法,其特征在于,包括:计算多个设备在第一预设时间内的掉线次数并判断各所述设备的掉线次数是否大于预设掉线次数;将所述掉线次数大于所述预设掉线次数的各所述设备的属性进行抽象化处理得到一属性数据集;对所述属性数据集进行频繁项集挖掘得到各属性之间的联系,并根据各属性之间的联系得到各所述设备之间的公共特征属性;根据所述公共特征属性判断各所述设备的掉线原因。
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