[发明专利]一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201710792457.4 | 申请日： | 2017-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN107705290B | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 肖君军;李雄杰;姚杏枝 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/143;G06T7/12;G06T7/149 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人： | 孙伟 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法，首先对AMOLED显示屏Mura图像采用均值漂移算法进行预分割，得到水平集算法所需的初始轮廓，然后再采用结合了图像的局部和全局信息的水平集算法对AMOLED显示屏Mura图像进行分割。本发明的有益效果是：解决了局部图像模型对初始轮廓敏感的问题，同时所提出的水平集算法结合了图像的局部和全局信息，解决了全局图像模型不能处理灰度不均图像的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 amoled 显示屏 mura 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种AMOLED显示屏Mura缺陷检测方法，其特征在于：首先对AMOLED显示屏Mura图像采用均值漂移算法进行预分割，得到水平集算法所需的初始轮廓，然后再采用结合了图像的局部和全局信息的水平集算法对AMOLED显示屏Mura图像进行分割。
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