[发明专利]一种TDI红外探测器组件盲元检测及替换方法

摘要

本发明公开了一种TDI红外探测器组件盲元检测及替换方法，其包括以下过程：S1：低温黑体下TDI模式图像采集；S2：低温黑体下BYPASS模式下图像采集；S3：高温黑体下TDI模式图像采集；S4：高温黑体下BYPASS模式图像采集；S5：盲元检测；S6：盲元替换。本发明已在系统的中波到甚长波六个谱段的成像中应用，证明方法可以有效提高成像图像质量；该方法适用范围广，可以普遍应用于采用中长波TDI红外探测器组件的成像系统中。

主权项

1.一种TDI红外探测器组件盲元检测及替换方法，其特征在于，包括以下过程：S1：低温黑体下TDI模式图像采集；S2：低温黑体下BYPASS模式下图像采集；S3：高温黑体下TDI模式图像采集；S4：高温黑体下BYPASS模式图像采集；S5：盲元检测；S6：盲元替换；所述S5中，盲元检测包括死像元检测、噪声像元检测和闪变像元检测；所述死像元检测采用双参考源响应率检测法；所述死像元检测的过程为：采用面源黑体测试，在低温黑体T₁和高温黑体T₂时，分别建立时间‑空间数据集；先在时间方向上求灰度平均，即F帧平均得到每个像元在低温黑体T₁和高温黑体T₂的响应均值分别为DN₁(i)和DN₂(i)，再在空间上对所有像元求平均得到像元平均灰度值和F为TDI红外探测器组件所采集图像的帧数；像元响应灰度按式(1)计算：ΔDN(i)＝DN₁(i)‑DN₂(i)       (1)平均响应灰度按式(2)计算：每个谱段探测器中符合下列不等式的像元通道记为死像元；所述噪声像元检测采用噪声电压检测法；所述噪声像元检测的过程为：选择T₁温度点，建立时间‑空间数据集；对于噪声像元算法是比较像元噪声与平均噪声的一定倍数来检测；单像元噪声按式(4)计算：F表示采集的帧数；DN_(i)(f)表示像元i第f帧响应灰度，为第f帧的平均灰度；平均噪声按式(5)计算：n为像元总数；每个谱段探测器中符合下列不等式的像元通道记为噪声像元；