[发明专利]一种多自由度工业X射线断层成像系统有效

专利信息
申请号: 201710806216.0 申请日: 2017-09-08
公开(公告)号: CN107515229B 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 马昌玉;郑健;刘兆邦;袁刚;范梅生;吴中毅;杨晓东 申请(专利权)人: 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046
代理公司: 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 代理人: 韩飞
地址: 215163 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种多自由度工业X射线断层成像系统,其包括:X射线源,其产生的X射线照射置于载物台上的待检对象;探测器,其探测穿过所述待检对象的X射线;载物台,其设有摆角调节机构,所述摆角调节机构驱动所述载物台绕Y轴摆动;其中,所述X射线源和探测器均具有Z向自由度。本申请提供的技术方案可实现待检工件的两种成像模式,通过载物台摆角调整功能和X射线源与探测器的反方向同步联动曝光采集可实现待检工件的多角度层析成像,通过载物台摆角调整和载物台的旋转相配合可实现待检工件的多角度断层重建成像,从而更好的满足工业检测的需求。
搜索关键词: 一种 自由度 工业 射线 断层 成像 系统
【主权项】:
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