[发明专利]一种microLED外延结构及其制备方法在审
申请号: | 201710816672.3 | 申请日: | 2017-09-12 |
公开(公告)号: | CN107706273A | 公开(公告)日: | 2018-02-16 |
发明(设计)人: | 白航空 | 申请(专利权)人: | 合肥惠科金扬科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/12 | 分类号: | H01L33/12;H01L33/06;H01L33/00 |
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地址: | 230000 安徽省合*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 一种microLED外延结构及其制备方法,所述外延结构包括衬底、以及依次层叠在所述衬底上的低温缓冲层、非掺杂GaN层、n型GaN接触层、多量子阱层、以及p型GaN接触层,所述多量子阱层包括GaN垒层和InxGa1‑xN阱层,0<X<1;所述非掺杂GaN层或n型GaN接触层至少其中之一分为两段式结构,两段结构之间插入AlGaN应力释放层。本发明通过在非掺杂GaN层或n型GaN接触层至少其中之一分为两段式生长,两段之间插入AlGaN应力释放层,减少非掺杂GaN层或n型GaN接触层内的应力,将非掺杂GaN层或n型GaN接触层内应力提前进行释放,进而减少翘曲,防止外延结构形成过程中可能因翘曲而产生的裂片、均匀性差(包括波长、亮度、电压等光电参数)等问题,显著提高片内均匀性。 | ||
搜索关键词: | 一种 microled 外延 结构 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种microLED外延结构,该外延结构包括衬底、以及依次层叠在所述衬底上的低温缓冲层、非掺杂GaN层、n型GaN接触层、多量子阱层、以及p型GaN接触层,所述多量子阱层包括GaN垒层和InxGa1‑xN阱层,0<X<1;其特征在于:所述非掺杂GaN层或n型GaN接触层至少其中之一分为两段式结构,两段结构之间插入AlGaN应力释放层;当所述非掺杂GaN层分为两段式结构时,包括依次层叠在低温缓冲层上的第一非掺杂GaN层、AlGaN应力释放层、第二非掺杂GaN层;当所述n型GaN接触层分为两段式生长时,包括依次层叠在低温缓冲层上的第一n型GaN接触层、AlGaN应力释放层、第二n型GaN接触层。
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