[发明专利]包括测试单元的显示设备有效
申请号: | 201710816988.2 | 申请日: | 2017-09-12 |
公开(公告)号: | CN107818968B | 公开(公告)日: | 2023-01-24 |
发明(设计)人: | 贾智铉;郭源奎;裵汉成 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 |
主分类号: | H01L23/544 | 分类号: | H01L23/544 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 史迎雪;康泉 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种包括测试单元的显示设备。显示设备包括:连接到数据线的像素、连接到数据线的数据焊盘、以及第一测试区域。第一测试区域包括:传送测试控制信号的测试控制线、传送测试信号的测试信号线、以及连接到数据焊盘的第一开关。第一开关包括:连接到测试控制线的栅电极、与栅电极重叠的第一半导体层和第二半导体层、连接到第一半导体层和第二半导体层的源电极、以及与源电极间隔开并连接到第一半导体层和第二半导体层的漏电极。源电极和漏电极分别连接到测试信号线和数据焊盘。第一半导体层和第二半导体层中的一个包括氧化物半导体,第一半导体层和第二半导体层中的另一个包括硅基半导体。 | ||
搜索关键词: | 包括 测试 单元 显示 设备 | ||
【主权项】:
一种显示设备,包括:基板;像素部分,位于所述基板上,并且包括连接到数据线的像素;数据焊盘,连接到所述数据线的一端;以及第一测试区域,包括用于传送测试控制信号的测试控制线、用于传送测试信号的测试信号线、以及连接到所述数据焊盘的第一开关,其中所述第一开关包括:栅电极,连接到所述测试控制线;第一半导体层和第二半导体层,与所述栅电极重叠;源电极,连接到所述第一半导体层和所述第二半导体层,所述源电极连接到所述测试信号线;以及漏电极,与所述源电极间隔开,并连接到所述第一半导体层和所述第二半导体层,所述漏电极连接到所述数据焊盘,其中所述第一半导体层和所述第二半导体层中的一个包括氧化物半导体,并且所述第一半导体层和所述第二半导体层中的另一个包括硅基半导体。
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