[发明专利]一种基于位错密度的振动时效效果的无损评价方法在审
| 申请号： | 201710819760.9 | 申请日： | 2017-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN107643305A | 公开（公告）日： | 2018-01-30 |
| 发明（设计）人： | 顾邦平;赖金涛;胡雄 | 申请（专利权）人： | 上海海事大学 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;C21D10/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201306 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 基于位错密度的振动时效效果的无损评价方法，包括制备具有初始残余应力的试样；采用X射线衍射仪测试试样振动时效处理前的X射线衍射图谱；对试样进行振动时效处理；采用X射线衍射仪测试试样振动时效处理后的X射线衍射图谱；分析试样振动时效处理前后的X射线衍射图谱，得到试样振动时效处理前后的位错密度。本发明提出采用位错密度作为评价振动时效效果的指标，能够丰富振动时效效果的评价方法，且本发明提出的基于位错密度的振动时效效果评价方法属于无损评价方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 密度 振动 时效 效果 无损 评价 方法 | ||
【主权项】：
基于位错密度的振动时效效果的无损评价方法，包括以下步骤：(1)、制备具有初始残余应力的试样；(2)、采用X射线衍射仪测试试样振动时效处理前的X射线衍射图谱；(3)、对试样进行振动时效处理；(4)、采用X射线衍射仪测试试样振动时效处理后的X射线衍射图谱；(5)、分析试样振动时效处理前后的X射线衍射图谱，得到试样振动时效处理前后的位错密度。
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