[发明专利]基于啁啾强度调制的光矢量分析方法及装置

摘要

本发明公开了一种基于啁啾强度调制的光矢量分析方法。本发明以啁啾强度调制光双边带信号作为探测光通过待测光器件，并通过光电探测将光信号转换为电信号；通过改变其中双边带信号与光载波之间的相位差来获得不同啁啾强度调制状态的探测光信号，然后利用不同啁啾强度调制状态的探测光信号所得到的电信号的幅相信息与探测光信号之间的关系建立方程组，求解得到待测光器件的幅相响应。本发明还公开了一种基于啁啾强度调制的光矢量分析装置。本发明能够在实现光器件幅相响应高精度测量的同时，避免复杂且相对窄带的单边带调制或载波频移，拓展测量范围一倍，消除残余边带导致的测量误差，消除系统内存在的滤波机制，大幅度降低系统的成本与复杂度。

主权项

1.基于啁啾强度调制的光矢量分析方法，其特征在于，通过以下方法生成啁啾强度调制光双边带信号：将频率为ω_c的光载波分为两路，把频率为ω_e的微波信号相位调制于其中一路光载波，生成双边带相位调制信号，然后将生成的双边带相位调制信号与另一路光载波相干叠加，即得啁啾强度调制光双边带信号；以所述啁啾强度调制光双边带信号作为第一探测光通过待测光器件，并将通过待测光器件后的第一探测光转换为第一电信号；改变所述双边带相位调制信号与另一路光载波之间的相位差，将所得啁啾强度调制光双边带信号作为第二探测光通过待测光器件，并将通过待测光器件后的第二探测光转换为第二电信号；提取第一电信号、第二电信号的幅相信息；建立以第一电信号、第二电信号的幅相信息及不经过待测光器件而直接对第一探测光、第二探测光直接进行光电转换所得到的电信号的幅相信息作为已知量，以待测光器件在ω_c±ω_e两个频率处的幅相响应作为未知量的方程组，通过对该方程组求解得到待测光器件在ω_c±ω_e两个频率处的幅相响应。