[发明专利]指纹图谱相似度计算方法、装置和样品质量评价系统在审

专利信息
申请号: 201710832461.9 申请日: 2017-09-15
公开(公告)号: CN107784192A 公开(公告)日: 2018-03-09
发明(设计)人: 姜红;聂磊;姜文文;刘肖雁;苏美;田进国 申请(专利权)人: 山东大学
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司37221 代理人: 黄海丽
地址: 250100 山东省济*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种指纹图谱相似度计算方法、装置和样品质量评价系统,其特征在于,所述方法包括建立标准参考指纹图谱;获取待测样品指纹图谱;计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的相关系数R1;计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的差异相似系数R2;基于所述相关系数和差异相似系数计算综合相似度。本发明的计算方法能够从样品的化学组成及含量差异两个方面反映样品的相似程度,并且适用于不同类型复杂样品体系的需要。
搜索关键词: 指纹 图谱 相似 计算方法 装置 样品 质量 评价 系统
【主权项】:
一种指纹图谱相似度计算方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:建立标准参考指纹图谱;步骤2:获取待测样品指纹图谱;步骤3:计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的相关系数R1;步骤4:计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的差异相似系数R2;步骤5:基于所述相关系数和差异相似系数计算综合相似度:其中δ为权重因子,其值范围是0≤δ≤1;u和v分别为R1和R2的灵敏度因子,取值范围分别为0≤u≤+∞与0≤v≤+∞。
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