[发明专利]一种模拟金手指接口氧化导致硬件错误的测试方法及装置有效
申请号: | 201710833774.6 | 申请日: | 2017-09-15 |
公开(公告)号: | CN107817438B | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 张明利 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/3167 | 分类号: | G01R31/3167 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 张亮 |
地址: | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种模拟金手指接口氧化导致硬件错误的测试方法及装置,将氧化金属液体和非金属液体涂抹在硬件的金手指上,模拟硬件氧化短路和断路,然后对硬件氧化短路、硬件氧化短路进行诊断,本发明使用氧化金属液体和非金属液体替代金手指长期氧化形成的氧化层,在用户真实使用的环境中复现长期氧化导致的硬件错误现象,保证测试结果更加真实准确。 | ||
搜索关键词: | 一种 模拟 手指 接口 氧化 导致 硬件 错误 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种模拟金手指接口氧化导致硬件错误的测试方法,其特征在于:步骤101,将氧化金属液体涂抹在硬件的金手指上,模拟硬件氧化短路;步骤102,将非金属液体涂抹在硬件的金手指上,模拟硬件氧化断路;步骤103,对硬件氧化短路和/或硬件氧化短路进行诊断。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州浪潮智能科技有限公司,未经苏州浪潮智能科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710833774.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。