[发明专利]一种测定细胞粘附力和细胞迁移速率的超低场磁探测方法有效

专利信息
申请号: 201710845635.5 申请日: 2017-09-19
公开(公告)号: CN107630063B 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 姚立;张娣 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: C12Q1/02 分类号: C12Q1/02;G01N27/72
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种测定细胞粘附力和细胞迁移速率的超低场磁探测方法。它包括如下步骤:将所述磁标记的细胞接种于所述修饰的芯片上孵育并磁化所述磁标记的细胞内的磁探针,然后进行细胞粘附力和细胞迁移速率的测定:1)外力干扰上述磁化得到的细胞从芯片上解离,同时采用FIRMS记录得到修饰的芯片上剩磁信号降低的谱图,根据上述谱图,将剩磁信号降低一半时对应的力定义为粘附力计算,即得到细胞的粘附力;2)采用FIRMS记录上述磁化得到的细胞迁移导致修饰的芯片的剩磁信号降低的谱图,根据上述谱图,通过线性拟合计算剩磁信号下降速率计算,即得到细胞的迁移速率。本发明采用FIRMS灵敏地响应外力或细胞自身迁移运动引起的剩磁信号的变化,不受距离的影响。
搜索关键词: 一种 测定 细胞 粘附 迁移 速率 超低场磁 探测 方法
【主权项】:
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