[发明专利]用于检测入射光的波长光谱的方法和电子装置有效
| 申请号： | 201710854952.3 | 申请日： | 2017-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN107870038B | 公开（公告）日： | 2022-02-01 |
| 发明（设计）人： | 朴景台;李正源;朴宰亨 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/42;G01J3/457 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 曾世骁;苏银虹 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于检测入射光的波长光谱的方法和电子装置。电子装置包括：图像传感器，包括像素阵列，其中，像素阵列包括单位像素，单位像素包括被配置为将入射光聚焦的微透镜和被配置为响应于入射光输出电信号的两个或更多个光检测器；处理器，被配置为基于来自所述两个或更多个光检测器的输出值检测入射光的波长光谱。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 入射 波长 光谱 方法 电子 装置 | ||
【主权项】：
一种电子装置，包括：图像传感器，包括像素阵列，其中，像素阵列包括单位像素，所述单位像素包括：微透镜，被配置为将入射光聚焦，以及两个或更多个光检测器，被配置为响应于入射光输出电信号；以及处理器，被配置为基于来自所述两个或更多个光检测器的输出值检测入射光的波长光谱。
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