[发明专利]一种测试治具新型探针有效
申请号: | 201710855106.3 | 申请日: | 2017-09-20 |
公开(公告)号: | CN107607753B | 公开(公告)日: | 2021-08-17 |
发明(设计)人: | 李鹏;李作鹏;杨洁;梅得军;李晓华 | 申请(专利权)人: | 上达电子(深圳)股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067 |
代理公司: | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人: | 许春兰;李彬彬 |
地址: | 518104 广东省深圳市宝安区沙井街道黄*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种测试治具新型探针,包括测试端部、中部、连接底部和贯穿于测试端部、中部、连接底部的测试针,位于连接底部的测试针的端部连有金属弹簧;探针使用前,需要对FPC焊盘位置进行钻孔,钻孔后将探针置于孔内固定,测试端部的测试针稍微凸出于孔的表面并接触到FPC的测试点,与FPC相连接,起到接触测试导通的作用,连接底部的测试针连有金属弹簧,弹簧的弹性韧性都要强于传统探针自身弹簧特性,对测试针起到缓冲保护作用,对产品不会造成压痕,耐用磨损小,生产率提高,具有良好的弹性,金属弹簧连接在插排上面,插排通过专用数据线与电脑相连接,从而达到测试的效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 新型 探针 | ||
【主权项】:
一种测试治具新型探针,其特征在于,包括测试端部(1)、中部(2)、连接底部(3)和贯穿于测试端部(1)、中部(2)、连接底部(3)的测试针(4),位于连接底部(3)的测试针(43)的端部连有金属弹簧(5)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上达电子(深圳)股份有限公司,未经上达电子(深圳)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710855106.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于半导体测试装置的旋转机架
- 下一篇:一种负载箱