[发明专利]一种测试治具新型探针有效

专利信息
申请号: 201710855106.3 申请日: 2017-09-20
公开(公告)号: CN107607753B 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 李鹏;李作鹏;杨洁;梅得军;李晓华 申请(专利权)人: 上达电子(深圳)股份有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 代理人: 许春兰;李彬彬
地址: 518104 广东省深圳市宝安区沙井街道黄*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种测试治具新型探针,包括测试端部、中部、连接底部和贯穿于测试端部、中部、连接底部的测试针,位于连接底部的测试针的端部连有金属弹簧;探针使用前,需要对FPC焊盘位置进行钻孔,钻孔后将探针置于孔内固定,测试端部的测试针稍微凸出于孔的表面并接触到FPC的测试点,与FPC相连接,起到接触测试导通的作用,连接底部的测试针连有金属弹簧,弹簧的弹性韧性都要强于传统探针自身弹簧特性,对测试针起到缓冲保护作用,对产品不会造成压痕,耐用磨损小,生产率提高,具有良好的弹性,金属弹簧连接在插排上面,插排通过专用数据线与电脑相连接,从而达到测试的效果。
搜索关键词: 一种 测试 新型 探针
【主权项】:
一种测试治具新型探针,其特征在于,包括测试端部(1)、中部(2)、连接底部(3)和贯穿于测试端部(1)、中部(2)、连接底部(3)的测试针(4),位于连接底部(3)的测试针(43)的端部连有金属弹簧(5)。
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