[发明专利]CQ‑1瓷珠消氢性能试验操作工艺及其使用装置在审
| 申请号： | 201710856984.7 | 申请日： | 2017-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN107421765A | 公开（公告）日： | 2017-12-01 |
| 发明（设计）人： | 刘虎;余诗明 | 申请（专利权）人： | 南京分析仪器厂有限公司 |
| 主分类号： | G01M99/00 | 分类号： | G01M99/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 210039 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明属于消氢器技术领域，尤其是一种CQ‑1瓷珠消氢性能试验操作工艺的使用装置；包括消氢器试验罐，所述消氢器试验罐的顶部开有进气嘴，侧面开有返回气嘴，底部开有出气嘴，所述进气嘴通过进气管路与标气供给装置连接，进气嘴与标气供给装置之间还连接有隔爆连接器；出气嘴通过出气管路与氢气分析器连接，氢气分析器通过返回管路与返回气嘴连接，所述出气管路与氢气分析器之间还依次连接有第一球阀、抽气泵、稳压器、干燥器；本发明中采用针型阀，是因为针型阀比其他类型的阀门能够耐受更大的压力，密封性能好，从而确保整个通H2还原过程的气路系统密封性及气路畅通，以确保安全；消氢能力更强。 | ||
| 搜索关键词： | cq 瓷珠消氢 性能 试验 操作 工艺 及其 使用 装置 | ||
【主权项】：
CQ‑1瓷珠消氢性能试验操作工艺，其特征在于，包括以下步骤：（1）对RD‑1400氢分析器进行校准操作，用标气校准氢气分析器的零点和满度，将被试钯盘装到试验罐内的CQ‑1仪器上，接通气路，通电通气，使其处于预热状态，约1.5小时后仪器才算进入正常工作状态；（2）消氢性能试验，所述消氢性能试验包括：高氢动态消氢、低氢动态消氢和静态消氢；（3）试验数据处理与钯盘消氢性能的判定。
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