[发明专利]一种存储芯片分类方法、分类装置及分类系统在审
| 申请号： | 201710862503.3 | 申请日： | 2017-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN107705819A | 公开（公告）日： | 2018-02-16 |
| 发明（设计）人： | 方时灵 | 申请（专利权）人： | 深圳市致存微电子企业（有限合伙） |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/44 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所44287 | 代理人： | 胡海国,晏波 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储芯片分类方法、分类装置及分类系统，所述方法包括获取待测存储芯片的标识信息，并根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令，然后根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数，再根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。由于是根据待测存储芯片的标识信息来获取对应的检测指令，从而加快了待测存储芯片的质量检测过程，提高了检测效率，同时由于是根据获取到的检测结果参数来对待测存储芯片进行分类并确定待测存储芯片对应的质量等级，从而保证了检测结果的高准确性，避免了后续返工增加的额外成本，提高了经济效益。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储 芯片 分类 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种存储芯片分类方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测存储芯片的标识信息，并根据所述标识信息获取所述待测存储芯片对应的检测指令；根据所述检测指令对所述待测存储芯片进行质量检测，获取检测结果参数；根据所述检测结果参数对所述待测存储芯片进行分类，获取所述待测存储芯片对应的质量等级。
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