[发明专利]一种大口径网状天线无源互调功率密度的半物理确定方法和系统有效

专利信息
申请号: 201710865464.2 申请日: 2017-09-22
公开(公告)号: CN107831373B 公开(公告)日: 2019-10-22
发明(设计)人: 白鹤;崔万照;李军;李韵;胡天存;王新波 申请(专利权)人: 西安空间无线电技术研究所
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G01R29/08;H04B17/00
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 胡健男
地址: 710100 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种大口径网状天线无源互调功率密度的半物理确定方法和系统,实现幅度相等双载波入射大口径网状天线无源互调分析评价。首先将大口径网状天线在载波中心频率处进行频域电磁场仿真,获得网状天线的表面功率密度分布,结合大口径网状天线与馈源的相对位置,载波入射方向与网状反射面法向的夹角区间。其次依据仿真结果进行金属网样本无源互调实验测量矩阵构建,利用金属网样本无源互调测量系统,实现测量矩阵对应金属网样本无源互调的测量。根据测量结果拟合出金属网无源互调与网状天线表面功率密度之间的函数关系。将大口径网状天线按功率密度划分为不同的区域,带入拟合函数,即可获得馈源端口处网状天线无源互调的功率密度。从而实现大口径网状天线无源互调功率密度的确定。
搜索关键词: 一种 口径 网状 天线 无源 功率密度 物理 确定 方法 系统
【主权项】:
1.一种大口径网状天线无源互调功率密度的半物理确定方法,其特征在于步骤如下:(1)对于大口径网状天线进行电磁仿真,得到大口径网状天线反射面的功率密度分布及馈源入射角度范围;(2)将步骤(1)的结果离散得到N个反射面功率密度的采样点和M个馈源入射角度的采样点;(3)根据步骤(2)反射面功率密度的采样点,对大口径网状天线的金属网制作的金属网样本进行无源互调测量,得到无源互调测量结果;(4)根据步骤(3)的无源互调测量结果,拟合出无源互调信号的功率密度PIM与大口径网状天线反射面的功率密度S以及馈源入射角度θ的函数关系;(5)根据步骤(2)反射面功率密度的采样点和馈源入射角度的采样点,将大口径网状天线反射面划分为N*M个区域,确定每个区域在大口径网状天线馈源处的无源互调功率密度因子SRegion,i;(6)在N*M个区域的每个区域中,根据步骤(4)得到的函数关系和步骤(5)得到的无源互调功率密度因子SRegion,i,得到大口径网状天线馈源处的无源互调功率密度。
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