[发明专利]测距装置及测距方法有效

专利信息
申请号: 201710880543.0 申请日: 2017-09-26
公开(公告)号: CN107656284B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 东尚清;李碧洲 申请(专利权)人: 艾普柯微电子(江苏)有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 林祥
地址: 214135 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请提供一种测距装置及测距方法。本申请中,所述测距装置包括:光源阵列、接收阵列以及处理模块;光源阵列为至少两个光源组成的阵列;至少两个光源在不同的时间段内向待测物体发射入射光信号;接收阵列用于接收反射光信号,并将反射光信号转换为第一电信号,以及将入射光信号转换为第二电信号;反射光信号为入射光信号遇到待测物体后反射回来的光信号;处理模块用于对第一电信号与第二电信号进行处理,得到与至少两个光源对应的至少两个深度数据阵列,并按照至少两个光源的分布方式对至少两个深度数据阵列进行组合,得到组合的深度数据阵列,以及基于组合的深度数据阵列得到待测物体的三维深度信息。本申请的技术方案,可以提高测距的分辨率。
搜索关键词: 测距 装置 方法
【主权项】:
一种测距装置,其特征在于,包括:光源阵列、接收阵列以及处理模块;所述光源阵列为至少两个光源组成的阵列;所述至少两个光源在不同的时间段内向待测物体发射入射光信号;所述接收阵列用于接收反射光信号,并将所述反射光信号转换为第一电信号,以及将所述入射光信号转换为第二电信号;所述反射光信号为所述入射光信号遇到所述待测物体后反射回来的光信号;所述处理模块,用于对所述第一电信号与所述第二电信号进行处理,得到与所述至少两个光源对应的至少两个深度数据阵列,并按照所述至少两个光源的分布方式对所述至少两个深度数据阵列进行组合,得到组合的深度数据阵列,以及基于所述组合的深度数据阵列得到所述待测物体的三维深度信息。
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