[发明专利]一种存储设备测试方法、系统、设备及计算机存储介质在审
申请号: | 201710882683.1 | 申请日: | 2017-09-26 |
公开(公告)号: | CN107608838A | 公开(公告)日: | 2018-01-19 |
发明(设计)人: | 玄加林 | 申请(专利权)人: | 郑州云海信息技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F11/26 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 本发明公开了一种存储设备测试方法、系统、设备及计算机存储介质,其中该方法包括获取取值范围预先确定的N类测试参数;从每一类测试参数中选取一个参数组合成测试参数组,基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试,新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同;判断参与性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值,若是,则执行从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组的步骤,若否,则结束测试,计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。本发明提供的一种存储设备测试方法实现了自动组合测试参数,降低了用户组合测试参数的组合难度,解决了如何提高存储设备测试过程的测试效率的技术问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 存储 设备 测试 方法 系统 计算机 介质 | ||
【主权项】:
一种存储设备测试方法,其特征在于,包括:获取取值范围预先确定的N类测试参数;从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组,基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试,新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同;判断参与所述性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值,若是,则执行所述从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组的步骤,若否,则结束测试,所述计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。
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