[发明专利]一种液晶屏对位偏移缺陷检测方法

摘要

本发明公开了一种利用红外特性实现液晶屏对位用mark点的图像采集方法，用于检测液晶屏现有制作工艺中各材料层压制时对位偏移的缺陷。本发明包括红色点光源、发射特定波段红外光的光源，广光谱响应宽度相机，远心镜头以及市场常用液晶屏样本。通过上述部件组合成的光学系统可采集到液晶屏压制时对位用的mark点，进而判断是否发生对位偏移为改善对位工艺提供依据，对于整个液晶屏行业生产质量的提高有着重大意义。

主权项

一种液晶屏对位偏移缺陷检测方法，该方法包括：步骤1：采用红色可见光对液晶屏进行补光，获取液晶屏玻璃层可见光图像；步骤2：采用红外光对对液晶屏进行补光，获取液晶屏电极层红外光图像；步骤3：对获取的玻璃层可见光图像和电极层红外光图像，分别进行灰度处理，再采用不同的阈值进行二值化处理，用于得到玻璃层和电极层的二值化图像；步骤4：采用标准的mark标志图像对玻璃层二值化图像中各区域图像进行匹配，找到玻璃层二值化图像中mark标志，采用相同方式找到电极层二值化图像中的mark标志；步骤5：对玻璃层二值化图像中mark标志和电极层二值化图像中的mark标志分别进行轮廓提取；步骤6：分别计算出玻璃层mark标志轮廓和电极层mark标志轮廓的中心点，通过两中心点的重合度来判断液晶屏对位是否偏移。