[发明专利]一种封装结构及封装方法在审
申请号: | 201710892256.1 | 申请日: | 2017-09-27 |
公开(公告)号: | CN109560091A | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 何志宏;林正忠;林章申 | 申请(专利权)人: | 中芯长电半导体(江阴)有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 214437 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种封装结构及封装方法,所述封装结构包括:重新布线层,所述重新布线层包括第一面以及与所述第一面相对的第二面,所述重新布线层包括介质层以及金属布线层;金属凸块,所述金属凸块形成于所述重新布线层第一面上;CMOS图像传感器芯片与逻辑芯片,所述CMOS图像传感器芯片及所述逻辑芯片正面具有金属焊点,所述金属焊点装设于所述重新布线层第二面上与所述重新布线层实现相互之间的电连接;封装材料,形成于所述重新布线层的第二面上,所述CMOS图像传感器芯片背面裸露于所述封装材料;本发明封装结构具有封装体积小,组装工艺简单,封装费用低,且不需要外部连线从而提高结构的稳定性,同时提高最终器件结构的成品率。 | ||
搜索关键词: | 重新布线层 封装结构 封装 封装材料 金属焊点 金属凸块 金属布线层 逻辑芯片 器件结构 外部连线 组装工艺 成品率 第二面 电连接 介质层 体积小 与逻辑 装设 背面 裸露 芯片 | ||
【主权项】:
1.一种封装结构,其特征在于,所述封装结构包括:重新布线层,所述重新布线层包括第一面以及与所述第一面相对的第二面,所述重新布线层包括介质层以及金属布线层;金属凸块,所述金属凸块形成于所述重新布线层第一面上;CMOS图像传感器芯片与逻辑芯片,所述CMOS图像传感器芯片及所述逻辑芯片正面具有金属焊点,所述金属焊点装设于所述重新布线层第二面上与所述重新布线层实现相互之间的电连接;封装材料,形成于所述重新布线层的第二面上,所述CMOS图像传感器芯片背面裸露于所述封装材料。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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