[发明专利]一种封装结构及封装方法在审

专利信息
申请号: 201710892256.1 申请日: 2017-09-27
公开(公告)号: CN109560091A 公开(公告)日: 2019-04-02
发明(设计)人: 何志宏;林正忠;林章申 申请(专利权)人: 中芯长电半导体(江阴)有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 214437 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种封装结构及封装方法,所述封装结构包括:重新布线层,所述重新布线层包括第一面以及与所述第一面相对的第二面,所述重新布线层包括介质层以及金属布线层;金属凸块,所述金属凸块形成于所述重新布线层第一面上;CMOS图像传感器芯片与逻辑芯片,所述CMOS图像传感器芯片及所述逻辑芯片正面具有金属焊点,所述金属焊点装设于所述重新布线层第二面上与所述重新布线层实现相互之间的电连接;封装材料,形成于所述重新布线层的第二面上,所述CMOS图像传感器芯片背面裸露于所述封装材料;本发明封装结构具有封装体积小,组装工艺简单,封装费用低,且不需要外部连线从而提高结构的稳定性,同时提高最终器件结构的成品率。
搜索关键词: 重新布线层 封装结构 封装 封装材料 金属焊点 金属凸块 金属布线层 逻辑芯片 器件结构 外部连线 组装工艺 成品率 第二面 电连接 介质层 体积小 与逻辑 装设 背面 裸露 芯片
【主权项】:
1.一种封装结构,其特征在于,所述封装结构包括:重新布线层,所述重新布线层包括第一面以及与所述第一面相对的第二面,所述重新布线层包括介质层以及金属布线层;金属凸块,所述金属凸块形成于所述重新布线层第一面上;CMOS图像传感器芯片与逻辑芯片,所述CMOS图像传感器芯片及所述逻辑芯片正面具有金属焊点,所述金属焊点装设于所述重新布线层第二面上与所述重新布线层实现相互之间的电连接;封装材料,形成于所述重新布线层的第二面上,所述CMOS图像传感器芯片背面裸露于所述封装材料。
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