[发明专利]具有识别刻线的高精度转角误差标定刻盘及标定系统在审

专利信息
申请号: 201710897402.X 申请日: 2017-09-28
公开(公告)号: CN107830819A 公开(公告)日: 2018-03-23
发明(设计)人: 于海;万秋华;赵长海;杜颖财;卢新然 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)44316 代理人: 赵勍毅
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明公开了一种具有识别刻线的高精度转角误差标定刻盘及转角误差标定系统。所述转角误差标定刻盘包括盘体,所述盘体为圆柱体,所述圆柱体的整个侧面为反光面;编码刻线组,所述编码刻线组为若干圈刻划在反光面上的编码刻线,所述编码刻线为二进制编码;和基准刻线组,所述基准刻线组为若干条刻划在反光面上的等间距、等宽的基准刻线。本发明提供了一种具有识别刻线的高精度转角误差标定刻盘,结合角度识别仪使用时,能够较传统转角误差标定装置实现更高分辨力和更高精度的转角误差标定。
搜索关键词: 具有 识别 高精度 转角 误差 标定 系统
【主权项】:
一种具有识别刻线的高精度转角误差标定刻盘,其特征在于,包括:盘体,所述盘体为圆柱体,所述圆柱体的整个侧面为反光面;编码刻线组,所述编码刻线组为若干圈刻划在反光面上的编码刻线,所述编码刻线为二进制编码;基准刻线组,所述基准刻线组为若干条刻划在反光面上的基准刻线,所述基准刻线的宽度相等,两相邻基准刻线之间的间距Δ相等;所述基准线组的基准刻线之间相互平行,且所述基准线平行于所述圆柱体的高,所述基准刻线均垂直并位于所述编码刻线的上方,所述编码刻线组的编码刻线均为圆周分布二进制编码。
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