[发明专利]一种基于互结构联合滤波的缺陷检测方法在审

专利信息
申请号: 201710897917.X 申请日: 2017-09-28
公开(公告)号: CN109598693A 公开(公告)日: 2019-04-09
发明(设计)人: 欧阳光;池敏 申请(专利权)人: 南京敏光视觉智能科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 杨晓玲
地址: 210019 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于互结构联合滤波的缺陷检测方法,包括以下步骤:采集标准图像及待判断图像,定义结构相似性矩阵;将图像划分为重叠的大小相同的小块,计算各小块之间的归一化的交叉相关性矩阵;计算小块之间的相似性度量;将所有小块的相似性度量相加组成相似性项Es,标准图像和待判断图像之间有一保真项Ed,还有一个系数的光滑项,三项组成待优化的能量方程求解;用交替迭代法求解能量方程;求得滤波后的标准图像和待判断图像,与原图像进行比较,得残差图像,设定残差图像阈值,若所得残差图像中存在大于阈值的部分,则该面板为有细缝的面板,判断为不合格,若所得残差图像中不存在大于阈值的部分,则该面板为合格面板。
搜索关键词: 残差图像 小块 标准图像 滤波 图像 相似性度量 能量方程 缺陷检测 求解 矩阵 相似性矩阵 定义结构 合格面板 交替迭代 归一化 原图像 保真 细缝 光滑 相加 采集 联合 优化
【主权项】:
1.一种基于互结构联合滤波的缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1)采集标准图像及待判断图像,定义结构相似性矩阵;步骤2)将图像划分为重叠的大小相同的小块,计算各小块之间的归一化的交叉相关性矩阵;步骤3)计算小块之间的相似性度量;步骤4)将所有小块的相似性度量相加组成相似性项Es,标准图像和待判断图像之间有一保真项Ed,还有一个系数的光滑项,三项组成待优化的能量方程求解;步骤5)用交替迭代法求解能量方程,得各变量的求解公式;步骤6)求得滤波后的标准图像和待判断图像,与原图像进行比较,得残差图像,设定残差图像阈值,若所得残差图像中存在大于阈值的部分,则该面板为有细缝的面板,判断为不合格,若所得残差图像中不存在大于阈值的部分,则该面板为合格面板。
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