[发明专利]一种采用电化学腐蚀技术来制作InP基SLD电流非注入吸收区的方法在审
申请号: | 201710902588.3 | 申请日: | 2017-09-29 |
公开(公告)号: | CN107706740A | 公开(公告)日: | 2018-02-16 |
发明(设计)人: | 张晶;祝子翔;乔忠良;高欣;薄报学;李辉;王宪涛;魏志鹏;马晓辉;孙春明;陈锋 | 申请(专利权)人: | 长春理工大学 |
主分类号: | H01S5/323 | 分类号: | H01S5/323 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 130022 *** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 一种采用电化学腐蚀技术制作InP基SLD电流非注入吸收区的方法。已知采用传统质子轰击办法来制作SLD电流非注入吸收区不足之处是过小计量的轰击效果不明显、不稳定或者过强轰击容易造成器件损坏。传统质子轰击办法来制作SLD电流非注入区对质子轰击工艺要求过高,器件的成品率过低。本发明是一种采用电化学腐蚀技术制作InP基SLD电流非注入吸收区的方法,器件整体结构由脊型台面和深纳米洞吸收区组成,在非出射端面处制作深纳米洞吸收区以达到抑制F‑P振荡的目的,吸收区经过电化学腐蚀等工艺制作而成,该吸收区的制作对腐蚀深度和腐蚀形状没有过多要求,仅需要穿过整个外延层可达到良好的光吸收效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 采用 电化学 腐蚀 技术 制作 inp sld 电流 注入 吸收 方法 | ||
【主权项】:
一种采用电化学腐蚀技术制作InP基SLD电流非注入吸收区的方法,其特征在于,其包括有如下步骤:1)针对图1中所示,采用电化学腐蚀技术制作1所示InP基SLD电流非注入吸收区;2)在InP基传统SLD外延片基础上,整个实验在一个装有电解液的电解池中进行。
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