[发明专利]基于DLP快速成型技术的切片图匀光方法及系统有效
| 申请号： | 201710906040.6 | 申请日： | 2017-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN107756784B | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | 林佳裕;李忠林 | 申请（专利权）人： | 深圳晗竣雅科技有限公司 |
| 主分类号： | B29C64/124 | 分类号： | B29C64/124;B29C64/264;B33Y30/00 |
| 代理公司： | 北京酷爱智慧知识产权代理有限公司 11514 | 代理人： | 任媛 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种基于DLP快速成型技术的切片图匀光方法及系统，方法为：将全白的切片图作灰度处理，得到一系列灰度值梯度的切片图；对同一位置不同灰度值切片图作测量，测出所述同一位置的光强，并得到光强与灰度的函数关系；将全白的切片图投射到成像面上，按预定的阵列测量成像面各区域的光强分布；根据成像面各区域的光强分布，以光强测量值的最低值作为成像面匀光后各点的最终光源强度；根据最终光源强度，结合光强与灰度的函数关系，对切片完成后的图片进行匀光。本发明使成像面上各区域的光源强度分布均匀，提高成型质量，避免加入光学镜片带来的光强衰减，提高光源的利用率；避免增加光路设计的复杂性，降低光学设计的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 dlp 快速 成型 技术 切片 图匀光 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.基于DLP快速成型技术的切片图匀光方法，其特征在于，包括：步骤S1，将全白的切片图作灰度处理，得到一系列灰度值梯度的切片图；步骤S2，对同一位置不同灰度值切片图作测量，测出所述同一位置的光强，并得到光强与灰度的函数关系；其中，同一灰度值梯度的切片图来自一系列灰度值梯度的切片图；步骤S3，将所述全白的切片图投射到成像面上，按预定的阵列测量所述成像面各区域的光强分布；步骤S4，根据所述成像面各区域的光强分布，以光强测量值的最低值作为成像面匀光后各点的最终光源强度；步骤S5，结合所述最终光源强度，结合所述光强与灰度的函数关系，对切片完成后的图片进行匀光，具体为：通过所述光强与灰度的函数关系计算出所述成像面中各个阵列区域所需处理的灰度值；根据所述所需处理的灰度值，结合所述最终光源强度，对切片完成后的图片进行匀光。
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