[发明专利]一种三维芯片封装结构及其封装方法在审
申请号: | 201710909208.9 | 申请日: | 2017-09-29 |
公开(公告)号: | CN107611045A | 公开(公告)日: | 2018-01-19 |
发明(设计)人: | 陈彦亨;林正忠 | 申请(专利权)人: | 中芯长电半导体(江阴)有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L21/60;H01L23/31;H01L23/535 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙)31219 | 代理人: | 刘星 |
地址: | 214437 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种三维芯片封装结构及其封装方法,所述封装结构采用封装基板、穿孔硅中介层、裸片堆叠的封装形式,并采用塑封层实现裸片的保护,其中,裸片与穿孔硅中介层可通过导电凸块及重新布线层连接。该封装结构具有结构简单、更高I/O密度、更快传输效率的优点。所述封装方法首先在承载基板上粘附穿孔硅中介层,然后将裸片正面朝下装设于穿孔硅中介层上,并于粘附层上形成覆盖所述裸片及所述穿孔硅中介层的塑封层,接着去除承载基板及粘附层,得到包括穿孔硅中介层、裸片及塑封层的三维芯片模块,最后提供一封装基板,将三维芯片模块具有穿孔硅中介层的一面装设于封装基板上。该封装方法工艺复杂度较低,有利于降低生产成本并提高封装良率。 | ||
搜索关键词: | 一种 三维 芯片 封装 结构 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种三维芯片封装结构的封装方法,其特征在于,包括以下步骤:提供一承载基板;于所述承载基板上形成粘附层;于所述粘附层上粘附穿孔硅中介层,所述穿孔硅中介层包括绝缘基板及多个上下贯穿所述绝缘基板的导电柱;提供至少一个裸片,将所述裸片正面朝下装设于所述穿孔硅中介层上;于所述粘附层上形成覆盖所述裸片及所述穿孔硅中介层的塑封层;去除所述承载基板及粘附层,得到包括所述穿孔硅中介层、所述裸片及所述塑封层的三维芯片模块;提供一封装基板,将所述三维芯片模块具有所述穿孔硅中介层的一面装设于所述封装基板上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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