[发明专利]一种基于亚像素的高精度矩形磁材尺寸检测方法有效

专利信息
申请号: 201710918394.2 申请日: 2017-09-30
公开(公告)号: CN107767371B 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 张静;邓荣钰;陈祥;刘三亚;刘笑寒;刘城作;刘霖;刘娟秀;倪光明;杜晓辉;刘永 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/187;G01B11/02
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 甘茂
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种基于亚像素的高精度矩形材料尺寸检测方法,属于数字图像处理领域,涉及一种矩形材料的数字图像中尺寸检测方法,特别是针对一种基于亚像素的高精度矩形磁材尺寸检测方法。采用对获取的矩形材料的图像进行处理,首先获取矩形材料的连通域,对矩形连通域的各边拟合一个旋转矩形,在旋转矩形的区域内计算边界像素,根据边界像素计算出矩形材料各边的边界,最后根据边界计算出矩形材料的长和宽;因而本发明具有计算精度高的特点。
搜索关键词: 一种 基于 像素 高精度 矩形 尺寸 检测 方法
【主权项】:
一种基于亚像素的高精度矩形材料尺寸检测方法,该方法包括:步骤1:获取矩形材料的清晰图像;步骤2:对步骤1中的图像进行图像预处理,得到矩形材料所在的ROI区域、矩形区域位置信息、矩形材料的摆放角度;步骤3:对步骤2中得到的图像进行中值滤波,去除图像中的噪声;步骤4:利用步骤2得到的位置信息和摆放角度,矩形材料的每条边定义一个旋转矩形,这些旋转矩形宽度为[20,40],长度为磁材对应边的[70%,90%],旋转矩形中心为对应矩形材料边的中点,旋转矩形方向与对应矩形材料边的方向一致;步骤5:求出步骤4中得到的4个旋转矩形的一个外接矩形区域,并截取外接矩形区域的图像,利用亚像素检测方法,求出外接矩形区域中的分界点;步骤6:对在步骤5中得到的分界点进行最小二乘法直线拟合,得到四条边的拟合直线;步骤7:求出四条拟合直线的四个交点;步骤8:根据步骤7得到的4个交点,构建矩形,该矩形相对边的平均值认定为矩形材料的长和宽。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710918394.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top