[发明专利]半导体装置以及包括半导体装置的半导体系统在审
申请号: | 201710922465.6 | 申请日: | 2017-09-30 |
公开(公告)号: | CN107895742A | 公开(公告)日: | 2018-04-10 |
发明(设计)人: | 织田真也;德田梨绘;神原仁志;河原克明;人罗俊实 | 申请(专利权)人: | 流慧株式会社 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/47;H01L29/45;H01L29/06;H01L21/34 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司11018 | 代理人: | 王东贤,王珍仙 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在本发明主题的第一方面,半导体装置包括包括含有镓的结晶性氧化物半导体的半导体层;以及位于半导体层上的肖特基电极。半导体层包括3mm2或以下的表面积。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 以及 包括 系统 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,包括:包括含有镓的结晶性氧化物半导体的半导体层;以及位于所述半导体层上的肖特基电极;其中所述半导体层包括3mm2或以下的表面积。
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