[发明专利]坏簇检测方法及装置

摘要

本发明实施例提供了一种坏簇检测方法及装置，本发明实施例按照预定顺序，针对每个目标坏点检测与其接触的右侧和下侧的像元中是否存在坏点，如果存在坏点，则将检测出来的所有坏点作为一个级别的待检测目标坏点，并对每个待检测目标坏点检测与其接触的右侧、下侧及左侧的像元中是否存在坏点，如果存在坏点，将检测出来的坏点作为另一个级别的待检测目标坏点，并对另一级别的每个待检测目标坏点执行与上一级别的待检测目标坏点相同的检测步骤，直到某一级别的待检测目标坏点的检测中没出现新坏点，最后根据检测得到坏点总数判断当前目标坏点的坏簇是否形成。此方案只需一次扫描就可检测出所有坏点，处理的数据量大幅度减小，有效提高了检测效率。

主权项

1.一种坏簇检测方法，其特征在于，所述方法包括：按照预定顺序对每个目标坏点执行以下步骤：检测与当前目标坏点接触的第一类像元中是否有坏点；若有坏点，则将检测到的坏点作为同一级别的待检测目标坏点；若没有坏点，则当前目标坏点不构成坏簇；其中，所述第一类像元为纵坐标小于或等于当前目标坏点的纵坐标的像元，并且在所述第一类像元的纵坐标等于当前目标坏点的纵坐标时，所述第一类像元的横坐标大于当前目标坏点的横坐标；对于同一级别的每个所述待检目标坏点，检测与该待检测目标坏点接触的第二类像元中是否有坏点，若有坏点，则将检测到的坏点作为另外一个级别的待检测目标坏点，并在当前级别的所有待检测坏点检测完毕后，针对另外一个级别的所述待检测目标坏点再次执行当前步骤；若没有坏点，则统计当前坏点总数，并根据所述坏点总数判定当前目标坏点的坏簇是否形成；其中所述第二类像元为除当前目标坏点以及已经检测过的像元外的，纵坐标小于或等于当前目标坏点的纵坐标的像元，并且在所述第二类像元的纵坐标等于当前目标坏点的纵坐标时，所述待检测目标像素的横坐标大于当前目标坏点的横坐标。