[发明专利]一种制备氧化铝单晶的方法在审

专利信息
申请号: 201710935935.2 申请日: 2017-10-10
公开(公告)号: CN107829132A 公开(公告)日: 2018-03-23
发明(设计)人: 董行行;王操;赵喆 申请(专利权)人: 上海应用技术大学
主分类号: C30B1/02 分类号: C30B1/02;C30B29/20
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司31001 代理人: 吴宝根
地址: 200235 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种制备氧化铝单晶的方法,先用放电等离子烧结设备将添加有烧结助剂的氧化铝粉末烧结成型;将浓度为0.1mol/L~0.3mol/L的钙硅离子溶液旋涂在氧化铝透明陶瓷的表面,在800℃~1000℃烧除前驱体;将氧化铝单晶切割成宽度为1.8~2.2mm的正方体小片作为籽晶,将籽晶与氧化铝陶瓷放在石墨磨具中进行烧结;将烧结得到的样品进行磨抛光处理,直至表面成镜面;将抛光好的样品进行热处理,获得氧化铝单晶。本发明工艺简单,运用SPS烧结技术可以减少陶瓷内部气孔,提高其性能。采用种晶和SPS技术可以降低成本,减少烧结时间。所采用的烧结技术可以提高透明陶瓷单晶化,提高其透光率。
搜索关键词: 一种 制备 氧化铝 方法
【主权项】:
一种制备氧化铝单晶的方法,其特征在于包括如下步骤:1)用放电等离子烧结设备将添加有烧结助剂的氧化铝粉末烧结,制得氧化铝陶瓷;所述的烧结助剂的量为氧化铝粉末质量的400~800ppm;2)制备浓度为0.1mol/L~0.3mol/L的钙硅离子溶液,将其旋涂在前述氧化铝陶瓷的表面,在800℃~1000℃烧除前驱体;钙硅离子溶液中,钙离子和硅离子的摩尔比为1:1;3)将氧化铝单晶切割成宽度为1~2mm的正方体小片作为籽晶,将籽晶与氧化铝陶瓷放在石墨磨具中进行烧结:烧结温度为1500℃~1700℃,升温速率为100℃/min,保温时间5~10min;4)将步骤3)烧结得到的样品进行磨抛光处理,直至表面成镜面;5)将步骤4)抛光好的样品在温度为1300℃~1500℃的条件下进行热处理,获得氧化铝单晶。
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