[发明专利]一种测试发控系统在审

专利信息
申请号: 201710937897.4 申请日: 2017-09-30
公开(公告)号: CN107505936A 公开(公告)日: 2017-12-22
发明(设计)人: 李闯;李鹏;刘华峰;邓健辉;王亚杰;龙超;张婧;苏珊;董阳霞 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司烽火机械厂
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 罗满
地址: 611100 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 本申请公开了一种测试发控系统,主控制电路的第一和第二输入端分别与测试控制终端和发射控制终端的输出端连接,第一输出端与发射对象上的电路系统的输入端连接;用于根据测试/发射控制终端发送的测试/发射指令生成测试/发射控制信号,并发送至电路系统,以便对发射对象进行地面/发射测试;其中,主控制电路包括主控芯片电路和延时输出电路,主控芯片电路的第一和第二输入端分别作为主控制电路的第一和第二输入端,主控芯片电路的输出端与延时输出电路的输入端连接,延时输出电路的第一输出端作为主控制电路的第一输出端。本申请利用延时输出电路避免主控芯片在上电复位期间输出的不稳定信号引起发射对象误动作,可有效提高安全性和可靠性。
搜索关键词: 一种 测试 系统
【主权项】:
一种测试发控系统,其特征在于,包括测试控制终端、主控制电路以及发射控制终端;所述主控制电路的第一输入端和第二输入端分别与所述测试控制终端的输出端和所述发射控制终端的输出端连接,第一输出端与发射对象上的电路系统的输入端连接;用于根据所述测试/发射控制终端发送的测试/发射指令生成测试/发射控制信号,并发送至所述电路系统,以便对所述发射对象进行地面/发射测试;其中,所述主控制电路包括主控芯片电路和延时输出电路,所述主控芯片电路的第一输入端和第二输入端分别作为所述主控制电路的第一输入端和第二输入端,所述主控芯片电路的输出端与所述延时输出电路的输入端连接,所述延时输出电路的第一输出端作为所述主控制电路的第一输出端。
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